Una cita clave para las mediciones del futuro
Durante el mes de agosto 60 jóvenes de toda América viajaron a Colombia para participar de la “Escuela de Metrología del SIM”, un evento que se realiza periódicamente y contribuye a la formación de nuevas generaciones de especialistas en la ciencia de las mediciones para fortalecer los vínculos entre los diferentes Institutos Nacionales de Metrología (INM) e Institutos Designados (ID) de la región que integran el Sistema Interamericano de Metrología.
Los asistentes pudieron compartir una amplia agenda de actividades de networking sobre los temas tratados en diferentes comités técnicos. Por otro lado, el encuentro resultó clave para formar futuros líderes en Metrología (abarcando sus magnitudes) y para promover la colaboración entre los INM e ID, fortaleciendo sus habilidades en trazabilidad metrológica y la infraestructura de la calidad.
En esta oportunidad, por parte del INTI participaron Marina Toscana del Departamento de Materiales de Referencia de Rafaela y Pablo Etchepareborda del Departamento de Luminotecnia. Así mismo, Lucas Di Lillo director de Metrología Física del INTI, fue parte del comité organizador y expositor del destacado evento.